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2014主管檢驗技師考試:免疫缺陷病常見的發(fā)病原因

更新時間:2014-01-22 09:16:00 來源:|0 瀏覽0收藏0

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摘要 免疫缺陷病常見的發(fā)病原因是醫(yī)學(xué)檢驗主管技師考試所涉及的內(nèi)容,環(huán)球網(wǎng)校醫(yī)學(xué)網(wǎng)整理如下,供廣大醫(yī)學(xué)檢驗主管技師考試考生參考學(xué)習(xí)。

  免疫缺陷病常見的發(fā)病原因是醫(yī)學(xué)檢驗主管技師考試所涉及的內(nèi)容,環(huán)球網(wǎng)校醫(yī)學(xué)考試網(wǎng)整理如下,供廣大醫(yī)學(xué)檢驗主管技師考試考生參考學(xué)習(xí)。

  1.遺傳基因異常

  (1)性染色體隱性遺傳(XL)。

  (2)常染色體隱性遺傳(AR)。

  2.中樞免疫器官發(fā)育障礙

  可因遺傳缺陷所致。

  3.免疫細(xì)胞內(nèi)在缺陷

  多由先天酶缺陷引起,如ADA(腺苷脫氨酶)、PNP(嘌呤核苷磷酸化酶)、G-6-PD(葡萄糖6磷酸脫氫酶)的缺乏,很多參加檢驗技士考試的學(xué)員,就是因為對這些縮寫沒有概念才丟失了很多的分?jǐn)?shù)。

  4.免疫細(xì)胞間調(diào)控機(jī)制異常

  調(diào)控機(jī)制異常,如輔助不足或抑制過剩,均可導(dǎo)致免疫缺陷。

  5.繼發(fā)性免疫缺陷

  常因感染、物理、化學(xué)等因素而引起。

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